元器件和半导体领域专利审查案例评析/专利审查案例丛书
编号：56231
书名：元器件和半导体领域专利审查案例评析/专利审查案例丛书
作者：应志红等著
出版社：知识产权
出版时间：2013-7-1
入库时间：2013-8-5
定价：36元
[图书内容简介]
本书以新颖性、创造性判断为主线，针对元器件、半导体领域提供了一些具有典型性的审查案例并进行分析。其中，既有涉及检索技巧，也有涉及技术理解、法律判断的案例。有些案例很有特点，分析也颇有深度。
[图书目录]
序言
第一章 检索
第一节 全面检索
第二节 检索技巧
第二章 实体审查
第一节 把我立法宗旨，正确使用法律条款
第二节 理解发明实质，准确判断申请
第三节 合理使用证据，提升通知书说服力
第三章 其他
第一节 缺乏必要技术特征
第二节 优先权核实
第三节 公开不充分